От оптоволоконной связи и беспроводных сетей до оптических запоминающих устройств и передового медицинского оборудования, оптоэлектроника становится все более важной частью современных технологий. Она является невидимой основой огромного количества таких разнообразных продуктов, как полупроводниковые лазеры, светодиоды, фотоприемники и оптоэлектрические преобразователи, обеспечивая взаимную конверсию оптической и электронной информации.
Для обеспечения надежности функционирования этих прецизионных приборов в течение времени их производители должны отвечать строжайшим требованиям, так как заказчик может не принять целую партию, состоящую их тысяч диодов, если найдет хотя бы один дефект в тестовом образце. Потребность в современной продукции в сфере телекоммуникации и электроники также ставит перед производителями и инженерами сложнейшие задачи. Дефекты роста кристаллов, неравномерности покрытий, дисперсное загрязнение, избыточное напыление и краевые сколы - это лишь некоторые из часто встречающихся ошибок, которые могут привести к миллионам напрасно произведенных приборов, задержке производства и, в худшем случае, к потерянным контрактам.
Чтобы избежать этих ошибок, необходим строжайший контроль поверхности материалов и ключевых свойств приборов, влияющих на параметры функционирования. Для этого инженеры-оптоэлектроники используют те же методы, применяющиеся в полупроводниковой и микроэлектронной промышленности, а также специальные методы, среди которых:
• неавтоматизированная метрология и спекл-метрология
• оптическая интерферометрия
• дифракционный анализ
• стереомикроскопия
• голографическая интерферометрия и инвертированная световая микроскопия
Так как границы оптоэлектронных технологий расширяются до невиданных ранее пределов, использование этих и других систем микроскопии становится все более важным для минимизации вероятности изготовления испорченных партий продукции, оптимизации производительности труда и повышения доходов.
Основные методы и приборы: стереомикроскопия, наблюдение в проходящем и отраженном свете, инвертированные микроскопы, видеоизмерительные системы, цифровые камеры, программное обеспечение NIS Elements. (Рисунок 7)
Рисунок 7 SMZ645/660
Стереомикроскопы Nikon SMZ645 и 660 созданы специально для пользователей, которым необходимы расширенные функции и увеличенная производительность при невысокой стоимости приборов. Запатентованная конструкция микроскопов Nikon три «А» (Airtight, Anti-mold and Anti-electrostatic - Герметичность, противогрибковая защита и защита от статического электричества) позволяет забыть о проблемах при работе в любых условиях.
Современные оптические приборы играют важную роль в народном хозяйстве, служат основой научно - технического прогресса. Оптические и прецизионные методы измерения и приборы как наиболее точные применяются во многих областях науки и производства - в большинстве современных высоких технологий, в ядерной и космической технике, лазерных технологиях, в машиностроении и приборостроении для контроля наиболее точных деталей, при сборке прецизионных узлов, для научных исследований в области физики, химии, медицины, биологии и так далее.
Значительную и все возрастающую роль играют прецизионные измерения также и в большинстве областей естественно - научных и научно - технических исследований, в технической, медицинской и биологической практике.
Успешная работа современного исследователя в оптической измерительной лаборатории зависит не только от хорошей оснащенности современными приборами, но и от знания и применения теоретических и технических аспектов современных прецизионных измерений, их возможностей и перспектив.
Другие статьи по теме
Использование IP-телефонии при ликвидации чрезвычайных ситуаций Без широкого применения средств связи, автоматизированных систем управления, использующих современные информационные, коммуникационные технологии и новейшую вычислительную технику, нево ...
Диспетчерский контроль движения поездов Диспетчерский контроль движения поездов позволяет диспетчеру видеть на световом табло участка в каждый момент времени местонахождение всех поездов и состояние входных, выходных светофоро ...
Использование микроконтроллеров при проектировании цифрового вольтметра Основной задачей при проектировании измерительных приборов было и остается достижение определенных метрологических характеристик. На разных этапах развития вычислительной техники эта зад ...